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簡要描述:飽和濕度試驗 環(huán)境檢測機構(gòu)采用嚴酷的溫度、濕度和偏壓條件,加速水分通過外部保護材料(密封劑或密封件)或沿著外部保護材料和穿過它的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透,與穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗激發(fā)相同的失效機制。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區(qū)域 | 全國 |
---|---|---|---|
服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5個工作日 | 服務(wù)類型 | 可靠性環(huán)境試驗 |
服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認可,主機廠認可 | 證書報告 | 中英文電子/紙質(zhì)報告 |
增值服務(wù) | 可加急檢測 | 是否可定制 | 是 |
是否有發(fā)票 | 是 |
協(xié)助客戶制定測試方案,開展測試,出具測試報告。
飽和濕度試驗 環(huán)境檢測機構(gòu)適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品。多在產(chǎn)品的設(shè)計階段開展,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
JESD22-A118B | 加速濕度抵抗-非偏置高加速應(yīng)力試驗 |
JESD22-A110 | 高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗 |
AEC-Q101-Rev-E March1 | 車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機理的應(yīng)力測試驗證 |
AEC-Q100-Rev-H | 集成電路的基于失效機理的應(yīng)力測試驗證 |
半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應(yīng)力測試、高壓蒸煮、無偏置HAST、無偏置溫濕度試驗、溫濕度偏置等項目。
CNAS
根據(jù)需求確定。
為什么要做此測試? HAST高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。
相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試,HAST增加了壓力控制,可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評估的測試周期。尤其在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品測試中,HAST高加速老化被作為標準高溫高濕測試的快速有效替代方案。
1、廣電計量是國內(nèi)專業(yè)的第三方檢驗機構(gòu),可提供一站式技術(shù)服務(wù);
2、廣電計量環(huán)境與可靠性事業(yè)部在全國建立了18個實驗室,擁有專業(yè)的多學(xué)科專家團隊和先進的檢測設(shè)備;
3、廣電計量環(huán)境與可靠性實驗室具備CMA、CNAS等資質(zhì),實行全國一體化管控模式,積極參加各類能力驗證項目,確保檢測結(jié)果公正準確、可追溯;
4、廣電計量在加速老化試驗方面有數(shù)十年積累,具有業(yè)內(nèi)水平的試驗設(shè)備和專業(yè)人才團隊。
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